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Micro/Nano Device Reliability Laboratory   

微纳器件可靠性研究室


NEWS

12/18

2020

[本站讯]近日,第66届电气电子工程师学会(IEEE)国际电子器件会议(International Electron Devices Meeting,IEDM)在线上举行,山东大学信息科学与工程学院陈杰智教授课题组的两篇研究论文《Deep Insights into the Failure Mechanisms in Field-cycled Ferroelectric Hf0.5Zr0.5...

10/27

2020

近日,山东大学信息科学与工程学院陈杰智教授课题组关于提高3D NAND闪存存储芯片可靠性的研究论文“Retention Correlated Read Disturb Errors in 3D Charge Trap NAND Flash Memory: Observations, Analysis, and Solutions”于2020年9月被IEEE TRANSACTIONS ON C...

10/16

2019

陈杰智,山东大学信息科学与工程学院教授、博士生导师、IEEE高级会员,博士毕业于日本东京大学,其后在日本东芝公司研...

12/10

2018

[本站讯]12月1日至12月5日,第64届电气电子工程师学会(IEEE)国际电子器件会议(Internationa...

10/17

2018

6月18日至6月22日,超大规模集成电路和半导体器件领域的顶级会议"2018 Symposium on VLSI ...

10/24

2017

近日,山东大学信息科学与工程学院陈杰智教授课题组关于3D NAND闪存存储器可靠性物理机理的研究工作论文被微电子领...
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